Cd0,22Zn0,78S filmleri farklı taban sıcaklıklarında püskürtme yöntemi ile elde edilmiştir. Bu çalışma, elde edilen filmlerin oda sıcaklığında alınan X-ışını kırınım desenlerini açıklamaktadır. Alınan bu desenler filmlerin hekzagonal Cd0,22Zn0,78S yapıda ve polikristal olduğunu göstermektedir. Film kalınlığı, yapılanma katsayısı, tanecik boyutu değerleri, örgü sabitleri ve d-değerlerinin bağıl % hatası hesaplanmıştır. Elde edilen filmlerin bu özelliklerine taban sıcaklığının etkisi araştırılmıştır.