| dc.creator |
GURKAN, Koray |
|
| dc.date |
2020-04-20T00:00:00Z |
|
| dc.date.accessioned |
2020-07-27T10:22:11Z |
|
| dc.date.available |
2020-07-27T10:22:11Z |
|
| dc.identifier |
https://dergipark.org.tr/tr/pub/sdufenbed/issue/53612/541139 |
|
| dc.identifier |
10.19113/sdufenbed.541139 |
|
| dc.identifier.uri |
http://acikerisim.sdu.edu.tr/xmlui/handle/123456789/50941 |
|
| dc.description |
Tekstil sektörü, hızla gelişen ve Türkiye ihracatının büyük kısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinin dış piyasa ile rekabet edebilmesi için ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplik kalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir. Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir. |
|
| dc.description |
Textilesector has become a rapidly growing export sector constitutes a large part ofTurkey. In order to compete with the foreign market, product quality needs tobe increased. Product quality may vary depending on yarn quality. In thisstudy, a new measurement circuit based on the differential parallel platemethod was proposed and analyzed mathematically for the capacitive measurementof yarn unevenness, which is one of the parameters that determine the yarnquality. The design steps of the parallel plates and the analog circuit, theirimplementation, the experimental setup are explained and the measurement resultsare given. With the designed circuit, the yarn unevenness measurement wascarried out very precisely. |
|
| dc.format |
application/pdf |
|
| dc.language |
tr |
|
| dc.publisher |
Süleyman Demirel University |
|
| dc.publisher |
Süleyman Demirel Üniversitesi |
|
| dc.relation |
https://dergipark.org.tr/tr/download/article-file/1039675 |
|
| dc.source |
Volume: 24, Issue: 1
5-11 |
en-US |
| dc.source |
1308-6529 |
|
| dc.source |
Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi |
|
| dc.subject |
Analog devre tasarımı,Kapasitif ölçüm,Sensör,İplik düzgünsüzlük |
|
| dc.subject |
Analog circuit design,Capacitive measurement,Sensor,Yarn unevenness |
|
| dc.title |
İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme |
tr-TR |
| dc.title |
Capacitive Measurement Circuit Design for Yarn Unevenness Analysis: Mathematical Approach and Realization |
en-US |
| dc.type |
info:eu-repo/semantics/article |
|