DSpace Repository

The Structural and Electronic Properties of TlGa1-xInxTe2 (x=0.00, 0.25, 0.50, 0.75) Alloys

Show simple item record

dc.creator YÜCEL, İsmail
dc.creator ÇAKMAK, Seyfettin
dc.date 2017-07-27T00:00:00Z
dc.date.accessioned 2019-07-09T11:48:20Z
dc.date.available 2019-07-09T11:48:20Z
dc.identifier http://dergipark.org.tr/sdufeffd/issue/29710/321951
dc.identifier
dc.identifier.uri http://acikerisim.sdu.edu.tr/xmlui/handle/123456789/45646
dc.description In this study, the structural and electronicproperties of TlGa1-xInxTe2alloys have been investigated using the full potentiallinearized augmented plane wave (FP-LAPW) method within the density functionaltheory (DFT). The TlGa1-xInxTe2 (x=0.25, 0.50,0.75) alloys have tetragonal structure as in TlInTe2 and TlGaTe2alloys. We create the crystal structure of these alloys using the P1  space group. We found that the value of thelattice parameter a and volume of unit cell increases with increasing Inconcentrations. These alloys have characteristics of semiconductors. Moreover,we show that the band gap energy is dependent on the alloy composition index x.The calculated band gap energies indicate that all the studied alloys here arecharacterized by narrow band-gap semiconductors. The finding of this studymotivates further future studies forconcerning quaternary TlGa1-xInxTe2 forx=0.25, 0.50 and 0.75 alloys.
dc.description Buçalışmada, yoğunluk fonksiyonelteorisi dahilinde lineergenişletilmiş düzlem dalga metodu kullanılarak TlGa1-xInxTe2alaşımlarının yapısal ve elektronik özellikleri incelendi. TlGa1-xInxTe2(x=0.25, 0.50, 0.75) alaşımları, TlInTe2 ve TlGaTe2alaşımları gibi tetragonal yapıya sahiptir. Alaşımların Kristal yapıları P1 ( ) uzay grubu kullanılarak elde edildi. Yapısalhesaplamalardan, birim hücre içerisindeki In konsantrasyonunun artışı ile örgüparametresi a ve birim hücre hacminin arttığını tespit edildi. Incelenenalaşımların, elektronik band yapı ve durum yoğunluğu hesaplamalarından,yarıiletken özellik sergilediğini bulundu. Ayrıca, alaşımların yasak bandenerjisinin x konsantrasyonuna bağlı olarak değiştiği tespit edildi. Hesaplananyasak band enerjileri alaşımların dar band aralıklı yarıiletken olduğunugöstermektedir.  Bu çalışmanın buldularıdörtlü TlGa1-xInxTe2 (x=0.25, 0.50, 0.75)alaşımları ile ilgilenen araştırmacılar için iyi bir referans çalışmaolacaktır.
dc.format application/pdf
dc.language tr
dc.publisher Süleyman Demirel University
dc.publisher Süleyman Demirel Üniversitesi
dc.relation http://dergipark.org.tr/download/article-file/328967
dc.source Volume: 12, Issue: 1 30-40 en-US
dc.source 1306-7575
dc.subject DFT method,Structural properties,Electronic properties.
dc.subject DFT metot,Yapısal özellikler,Elektronik özellikler
dc.title The Structural and Electronic Properties of TlGa1-xInxTe2 (x=0.00, 0.25, 0.50, 0.75) Alloys en-US
dc.title TlGa1-xInxTe2 (x=0.00, 0.25, 0.50, 0.75) Alaşımlarının Yapısal ve Elektronik Özellikleri en-US
dc.type info:eu-repo/semantics/article


Files in this item

Files Size Format View

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account