DSpace Repository

Investigations on Structural, Electrical and Optical Properties of Polycrystalline CdInTe Thin Films Grown by Thermal Evaporation

Show simple item record

dc.creator Yılmaz, Koray
dc.creator Gölcür, Deniz
dc.date 2014-07-15T00:00:00Z
dc.date.accessioned 2019-07-09T11:48:31Z
dc.date.available 2019-07-09T11:48:31Z
dc.identifier http://dergipark.org.tr/sdufeffd/issue/11279/134784
dc.identifier
dc.identifier.uri http://acikerisim.sdu.edu.tr/xmlui/handle/123456789/45705
dc.description In this study, properties of thermally evaporated polycrystalline CdInTe thin films were investigated. The surface morphology, composition and crystal structure of the films were determined by means of SEM, EDXA and XRD analysis. Temperature dependent Hall effect measurements were carried out in the temperature range of 200-400 K. In the whole temperature region, the dominant transport mechanism of the films was found to be thermionic emission of the carriers over the grain boundaries. The room temperature conductivity, mobility and electron concentration values were found to be 1.8x10-2(Ω.cm)-1, 50 cm2V-1s-1 and 1.1x10-15 cm-3, respectively. The mobility-temperature dependence showed that ionized impurity, neutral donor impurity and acoustic phonon scattering mechanisms were effective over the low (216-256 K), intermediate (256-317 K) and high temperature (317-357 K) regions, respectively. The optoelectronic properties of the films were also investigated by absorption in 190-1100 nm wavelength region and photoconductivity measurements in 80-400 K temperature range
dc.description Termal Buharlaştırma ile Büyütülmüş Polikristal CdInTe İnce Filmlerin Yapısal, Elektriksel ve Optik Özelliklerinin Araştırılması Özet: Bu çalışmada, termal buharlaştırma yoluyla üretilmiş polikristal CdInTe ince filmlerin özellikleri araştırılmıştır. Filmlerin yüzey morfolojisi, kompozisyonu ve kristal yapısı SEM, EDXA ve XRD analizleri ile incelenmiştir. Sıcaklığa bağlı Hall etkisi ölçümleri 200-400 K sıcaklık aralığında gerçekleştirilmiştir. Tüm sıcaklık aralığında etkin akım mekanizmasının termoiyonik emisyon olduğu tespit edilmiştir. Oda sıcaklığında iletkenlik, mobilite ve elektron konsantrasyonu sırasıyla 1.8x10-2 (ï—.cm)-1, 50 cm2V-1s-1 ve 1.1x10-15 cm-3 olarak bulunmuştur. Mobilite-sıcaklık değişimi ölçümlerinden iyonize safsızsızlık, nötral verici safsızlığı ve akustik fonon saçılma mekanizmalarının sırasıyla (216-256 K), (256-317 K) ve (317-357 K) sıcaklık aralıklarında etkin olduğu belirlenmiştir. Filmlerin optoelektronik özellikleri 190-1100 nm dalgaboyu aralığında soğurma ve 80-400 K sıcaklık aralığında fotoiletkenlik ölçümleri ile araştırılmıştır.Anahtar kelimeler: Yarıiletken, ince film, termal buharlaştırma, Hall etkisi
dc.format application/pdf
dc.language en
dc.publisher Süleyman Demirel University
dc.publisher Süleyman Demirel Üniversitesi
dc.relation http://dergipark.org.tr/download/article-file/116396
dc.source Volume: 9, Issue: 1 150-162 en-US
dc.source 1306-7575
dc.subject Semiconductors, thin films, thermal evaporation, Hall effect
dc.subject Yarıiletken, ince film, termal buharlaştırma, Hall etkisi
dc.title Investigations on Structural, Electrical and Optical Properties of Polycrystalline CdInTe Thin Films Grown by Thermal Evaporation en-US
dc.type info:eu-repo/semantics/article


Files in this item

Files Size Format View

There are no files associated with this item.

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account